전자식 테스트 프로브의 경우, 프로브의 대전류 전송 시 전류 감쇠가 발생하는지, 그리고 소피치 필드 테스트 중 핀 걸림이나 핀 파손이 발생하는지 확인할 수 있습니다. 연결이 불안정하고 테스트 수율이 저조하면 프로브의 품질과 성능이 좋지 않다는 것을 나타냅니다.
고전류 탄성 칩 마이크로 니들 모듈은 새로운 유형의 테스트 프로브입니다. 일체형 탄성 칩 구조로 가볍고 성능이 뛰어납니다. 고전류 전송 및 미세 피치 테스트 모두에서 우수한 응답성을 제공합니다. 최대 50A의 고전류를 전송할 수 있으며, 최소 피치 값은 0.15mm에 달합니다. 핀 손상이나 파손을 방지하며, 안정적인 전류 전송과 우수한 연결 기능을 제공합니다. 수-암 커넥터 테스트 시, 암 커넥터 접합부 테스트 수율이 최대 99.8%에 이르며 커넥터에 손상을 주지 않습니다. 고성능 프로브의 대표적인 제품입니다.
게시 시간: 2022년 10월 31일
